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發(fā)布時(shí)間:2013/11/30
點(diǎn)擊次數(shù):805
2. 方塊電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀 型號(hào):DP-ST-21
方塊電阻測(cè)試儀是種依照類(lèi)似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成度穩(wěn)流源;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、度的特點(diǎn)。
◆ 特點(diǎn): | ||||||||||||||
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◆ 標(biāo): | ||||||||||||||
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